Лабораторный стенд используется для автоматизированных измерений вольт-фарадных и вольтамперных характеристик полупроводниковых структур.
Назначение и описание:
Состав аппаратной части
Измерительный блок со встроенными образцами
Набор внешних образцов
Описание :
- Автоматизированные измерения C-V и G-V- характеристик полупроводниковых структур;
- Автоматизированные измерения ВАХ полупроводниковых структур;
- Расчет профиля распределения концентрации легирующей примеси;
- Определение емкости и толщины диэлектрика, сопротивления подложки МДП-структуры/
Технические характеристики:
Диапазоны измерения емкости образцов 1000, 300, 100, 30, 10 пФ
Диапазон изменения напряжения смещения на образце ±10 В
Максимальный постоянный ток смещения 10 мкА
Частота тестового сигнала 1 МГц
Амплитуда тестового сигнала на образце 25, 250 мВ
Количество встроенных образцов 3
Относительная погрешность измерения емкости 3 %
*Дополнительные требования: необходим компьютер или ноутбук
Вам нужно авторизироваться для того, чтобы проголосовать.
